高压陶瓷电容器的-性测试，也叫老化测试，寿命测试，包括很多方面的测试内容：
1 104高压陶瓷电容，耐压实验 101低压陶瓷电容，包括额定工作电压24小时工作测试；也包括击穿耐压，即破坏性测试，电容被击穿前的那一个临界电压就是击穿电压。
2，串联电阻测试，绝缘电阻测试；
3，拉力测试，即引线与芯片焊接的牢固度；
4，正负温变化率测试，即-40度到+60度状况下，电容的变化率；
5，老化测试，电容在模拟工作环境状态下运作30~60天，测试其衰减其各项参数的变化；
6，寿命测试，即在老化测试的基础上，再对电容进行高频冲电流下快速充放电测试，得到的充放电次数就是充放电寿命，注意，这个寿命的得出是在长时间的老化之后得出的。
7，局放测试，即局部放电测试；
当然，在这些测试过程中，我们可以得出各种参数，如额定电压 陶瓷电容，击穿电压，过电流，工作频率，容量变化率，绝缘电阻，等。每一种电容在研发与生产配料再次生产时，都要重新进行测试，才能准确判断产品是否合格。
金属化薄膜电容器
金属化薄膜电容器所使用的薄膜有聚-、-、聚-等 103低压陶瓷电容，除了卷绕型之外，也有叠层型。金属化薄膜这种型态的电容器具有一种所谓的自我复原作用(self
healing
action)，即假设电极的微小部分因为电界质脆弱而引起短路时，引起短路部分周围的电极金属，会因当时电容器所带的静电能量或短路电流，而引发面积的溶
融和蒸发而恢复绝缘，使电容器再度回复电容器的作用。
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