红外显微镜

　　红外显微镜BX53IR可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。红外显微镜BX53IR

　　可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察

　　采用红外显微镜测量单纤维红外显微光谱图时，尽管微区分辨率强，但亦存在几种影响谱图的基本问题，这里着重分析了测量参数和纤维形态变化对所测光谱的影响并对纤维偏振光谱和ATR光谱的测量以及红外显微光谱图的重现性也做了一定的实验表征。

　　用普通傅立叶变换红外光谱技术测量纤维的红外光谱，一般采用压片法，即将纤维切碎后与KBr粉末混合制成盐片后测量。用傅立叶变换红外显微镜技术，可以对单纤维直接测量，具有简洁、直观、精度高、针对性强等优点。不仅可以测量透射和反射光谱，而且还可以方便地测量纤维的偏振光谱和ATR(Attenuated Total Reflection)光谱。由于其不破坏纤维，故能准确地反映纤维的结构信息和受形态影响的组分信息。近年来，其红外成像技术(Mapping)在纤维材料的研究中也得到了越来越多的应用。为了能得到高的红外显微光谱图，本文讨论了在测量中应注意的一些问题

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