济宁测厚仪-一六仪器1-光谱分析仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- -(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

（一）、内部结构

   x荧光光谱测厚仪机型很多，但是其内部结构如果先天不足，后期的外部结构无论自动化多高，也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点：

1、x荧光发射和ccd观测是否同步和垂直？

2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离？

3、x光照射面积从出口到样品的扩散情况。

（二）、各种内部结构的优缺点

   1、x荧光发射和ccd观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置，才能-定位-，同时减少与探测器或计数器的夹角，夹角小测试时

受样品曲面或者倾斜影响小。

2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件，同时也-好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦

补偿射线的算法。

3、x光照射面积从出口到样品的扩散过于-会导致无法测试样品工件上较小的平面位置，镀层分析仪，如果减小出口（准直器直径），又会-耗损x光的强度。

因此一台此类仪器的小准直器不是关键，但是测试面积却是个重要的指标。

   江苏一六仪器有限公司  镀层测厚检测   欢迎来电详询！ 

  x射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，济宁测厚仪，通常在1nm-50um之间。x射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征x射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散x射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行-的化学处理、快速，光谱分析仪，方便，测量成本低等明显优势，-适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。