光谱分析仪-测厚仪-一六仪器有限公司

江苏一六仪器有限公司   x射线荧光光谱测厚仪

-的技术，-团队，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户-的-所在。欢迎咨询联系！

-势：

  下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

  无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽-范围0-90mm。

  微-射线装置：可检测面积小于0.002m㎡的样品，可测试各微小的部件。

一六仪器  -通力合作打造-x荧光测厚仪  

一六仪器研发生产的x荧光光谱仪，镀层分析仪，稳定的多道脉冲分析采集系统，光谱分析仪，---和变距设计，多元efp算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

仪器规格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

   样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

   仪器重量 ：55kg

   供电电源 ：交流220±5v

    zui da功率 ：330w

   环境温度：15℃-30℃

   环境相对湿度：<70%

涂层测厚仪操作规程有哪些

   我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至-的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，测厚仪，下面就来了解下先：

 一、操作注意事项

  1. 如果在测量中测头放置不稳，会引起测量值与实际值偏差较大；

  2.  如果已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差 范围内；

  3. 仪器的任何一个测量值都是五次看不见的测量平均值；

  4.  为使测量准确，可在一个点多次测量，并计算其平均值作为 终的测量结果；

  5.  显示测量结果后，一定要提起测头至距离工件10mm以上，才可以 进行下次测量。