因此，在产品开发中应强制规定所用的材料符合抗uv-c性能方面的要求。
vde测试
目前国际已有要求测试非金属材料的抗uv-c性能的标准，如iec 60335-1: 2010 / amd2: 2016 “家用和类似用途的电气设备的安全性”。鉴于这种发展，vde提前制定了可行的测试方法，可为产品提供符合标准、-的抗uv-c性能测试服务。
半绝缘体的导电能力与下列因素有关：（1）温度可以明显地改变半绝缘体的导电能力。例如温度升高10摄氏度半绝缘体的电阻率约下降25%。人们利用这种热敏效应，上海计算机电源线，制成了自动控制用的热敏电阻。（2）当有光线照射到半绝缘体时，不但导电能力增强，还可以产生电动势，这就是半绝缘体的光电效应。人们利用这种特性，计算机电源线接口，制成了光敏电阻和光电池。光电池已在空间技术中得到广泛的应用。
在同样帧率的情况下，计算机电源线功能，这种方法比起逐行扫描引起的视觉闪烁比较小。扫描设备交换扫描偶数行和奇数行。在pal制式和ntsc制式中，都是先扫描奇数行，即奇数场。非隔行扫描的扫描方法（即逐行扫描）通常从上到下地扫描每帧图像。这个过程消耗的时间比较长，阴极射线的荧光衰减将造觉的闪烁感觉。当带宽受限，以至于不可能快到使用逐行扫描而且没有闪烁效应时，通常采用一种折衷的办法，即每次只传输和显示一半的扫描线，即场。
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