一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- -(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,镀层测厚仪,24种元素 厚度检出限:0.005um
镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法
适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法
适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法
目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。
4.电解测厚法
此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。
5.测厚法
此种仪器价格昂贵,适用于一些特殊场合。
江苏一六仪器有限公司是一家-于光谱分析仪器研发、生产、销售的-企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名通力合作,研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。广泛应用于电子元器件、led和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素量分析。但是由于影响荧光x射线的强度的因素较多,除待测元素的浓度外,仪器校正因子,待测元素x射线荧光强度的测定误差,元素间吸收增加效应校正,样品的物理形态(如试样的均匀性、厚度,表面结构等)等都对定了分析结果产生影响。由于受样品的基体效应等影响较大,因此,对于标注样品要求很严格,只有标准样品与实际样品集体和表面状态相似,才能-定量结果的准确性。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- -(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
x荧光测厚仪相关注意事项:
仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。
本仪器为精密仪器,配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(ups)。
仪器应-注意与存在电磁的场合隔离开来。
为避免短路,严禁仪器与液体直接接触,如果液体进入仪器,请立即关闭仪器。
本仪器不能用于酸性环境和场合。
不要弄脏和刮擦调校标准片,否则会造成读数错误。
不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物,可以用不起毛的布轻轻擦拭。
宁波镀层测厚仪-江苏一六仪器由江苏一六仪器有限公司提供。宁波镀层测厚仪-江苏一六仪器是江苏一六仪器有限公司今年新升级推出的,以上图片仅供参考,请您拨打本页面或图片上的联系电话,索取联系人:邓女士。
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