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半导体xrd测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要-半导体产业发展的应用技术研究，-重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

关于样品试片的厚度

　　样品对x射线透明度的影响，跟样品表面对衍射仪轴的偏离所产生的影响类似，浙江xrd晶粒尺寸，会引起衍射峰的位移和不对称的宽化，此误差使衍射峰位移向较低的角度，xrd晶粒尺寸机构，-是对线吸收系数μ值小的样品，在低角度区域引起的位移δ(2θ)会很-。

　　如果要求准确测量2θ或要求提高仪器分辨率能力，应该使用薄层粉末样品。通常仪器所附的制作样品的样品框的厚度（1.5～2 mm）对于所有样品的要求均已足够了。

制样技巧

　　对于制样来说没有通用的一种方法，通常需依据实际情况有针对性地进行选择。然而无论用何种方法，都需要满足一个前提条件——在制成样品试片直至衍射实验结束的整个过程中，xrd晶粒尺寸价格，必须-试片上样品的组成及其物理化学性质和原样品相同，必须-样品的-性。

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做 xrd 有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种-团？

　　x 射线照射到物质-产生散射。晶态物质对 x 射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。

　　绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生 x 射线衍射。晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。晶体的 x 射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。用少量固体粉末或小块样品便可得到其 x 射线衍射图。

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xrd可以用于定量分析哪些内容？

a. 样品的平均晶粒尺寸，基本原理：当 x 射线入射到小晶体时，其衍射线条将变得弥散而宽化，晶体的晶粒越小， x 射线衍射谱带的宽化程度就越大。因此晶粒尺寸与xrd谱图半峰宽之间存在一定的关系，即谢乐公式（scherrerequation），下期会详细分析其原理与注意事项。对于对于负载型催化剂表面的金属颗粒，其颗粒大小 d（单位 nm）与其分散度 d 之间可以简单地换算：d ≈ 0.9/d (注：0.9这个常数是经验值) 。

b. 样品的相对结晶度：一般将衍射峰积分所得的面积（as）当作计算结晶度的指标，与标准物质积分所得面积(ag)进行比较，结晶度=as/ag*100%。

c. 物相含量的定量分析：主要有k值法也叫rir方法和rietveld全谱精修定量等。其中，rir法的基本原理为1:1混合的某物质与刚玉(al2o3)，其衍射峰的积分强度会有一个比值，该比值为rir值。通过将该物质的积分强度/rir 值总是可以换算成al2o3的积分强度。对于一个混合物而言，物质中所有组分都按这种方法进行换算，后可以通过法得到某一特定组分的百分含量。

d. xrd还可以用于点阵常数的精密计算，残余应力计算等

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