xrd小角度检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要-半导体产业发展的应用技术研究，-重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
首先，x射线衍射方法只能证明一个物相的存在，而不能证明一个物相的不存在。
这是因为，x射线衍射强度是一个样品表面信息的统计结果。当一个物相的含量低于某一下限值（1%-10%左右，不同物相不同）时，xrd方法是不能检定一个物相的存在的。因此，如果你还想问“我的样品中有0.3%的zr，为什么在om，tem或sem中可以看到它的存在，为什么用xrd做不出来呢？”这样的问题，说明你对xrd还不了解。
其次，并不是有了jade就能一定分析出是什么物相。
jade是一个pdf卡片的检索程序，xrd小角度检测机构，通过给定的条件从pdf卡片库中检索出“基本上符合条件的物相卡片”。但，这些卡片可能-不是你的样品中存在的物相，因为有些物相并没有相应的pdf卡片。这时候，jade就-为力了。这时，你多可以检索出与实际物相结构相近的卡片。
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任何一个检索程序都需要一定的“检索条件”，jade也不例外。
样品的衍射图谱本身就是基本的检索条件，但是，光有图谱是不够的，已知条件越多，则检索结果越准确。这里说的检索条件，xrd小角度检测服务，用得的就是“元素”。
jade有三种选择。存在，不存在，可能存在。使用jade的人要真正地理解这三种情况的使用方法。在论坛里，有些人在求助帖中只给出一个图谱的数据，希望人家能帮助分析出准确的结果来。说实在的，人都不是，你不告诉人家任何条件，肯定是不能算出命来的。因此，不附加任何已知条件的图谱分析很多时候会闹出笑话来。
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用 xrd 图来精修出分子结构研究分子的性质， 收集 xrd 时应注意些什么?
强度要高，中等强度的衍射峰强度要达到 5000 计数以上；衍射峰的分辨要尽可能的好；扫描范围要大，大 d 值的峰不能缺失。衍射峰的强度和很多因素有关，比如样品的衍射能力，性质，还有仪器功率，测试方法，检测器的灵敏度等等。
做 xrd 时步长一般为 0.02 度，但是如果要做 rietveld 分析，出了强度要求 500 以上，步长有没有什么要求啊？
一个半峰宽内有 3-5个点就可以了，步长一般为 fwhm 的 0.2-0.3 就可以了。强度要求在10000-20000之间。
3如果用普通的xrd仪器如 brucker d8或者 philips 等测试粉末的 xrd，扫描速度需要多慢才适合用 gsas 等方法作rietveld分析，青海xrd小角度检测，需要加内标吗？
扫描速度的快慢是根据你的数据强度要求来确定的，如果要做结构精修，中等强度的衍射峰的强度应该在 5000 以上，至于内标是不需要的。
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