x射线荧光镀层膜厚测量仪

鑫晟时代科技（北京）有限公司为您提供x射线荧光镀层膜厚测量仪。x射线荧光镀层膜厚测量仪　　日立x射线荧光镀层膜厚测量仪特点：
　　1．显微领域的-检测
　　x射线荧光镀层膜厚测量仪通过采用新开发的多毛细管，以及对探测器的优化，在实现照射半径等同于旧有型号ft9500x为30 μm（设想fwhm： 17 μm）的基础上，进一步将处理能力提高到了2倍以上。
　　2．产品阵容适应各类检测样本
　　针对检测样本的不同种类，可在下列3种型号中进行选择。
　　●测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号
　　●能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号
　　●适合对陶瓷芯片电极部分中，过去难以同时测量的sn/ni两层进行高能测量的型号
　　产品来源：www.chem17.com/st332859/product_26570174.html

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