鑫晟时代科技(北京)有限公司为您提供镀层膜厚测量仪。镀层膜厚测量仪 日立x射线荧光镀层膜厚测量仪特点:
1.显微领域的-检测
x射线荧光镀层膜厚测量仪通过采用新开发的多毛细管,以及对探测器的优化,在实现照射半径等同于旧有型号ft9500x为30 μm(设想fwhm: 17 μm)的基础上,进一步将处理能力提高到了2倍以上。
2.产品阵容适应各类检测样本
针对检测样本的不同种类,可在下列3种型号中进行选择。
●测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号
●能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号
●适合对陶瓷芯片电极部分中,过去难以同时测量的sn/ni两层进行高能测量的型号
3.-易操作性与安全性
放大了开口,同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性,并且该密封结构也-减少了x射线泄漏的风险,让用户放心使用。
产品来源:www.chem17.com/st332859/product_26573058.html
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